五澤坤科技有限公司
北京五澤坤科技有限公司是中國專注于納米技術，特別是原子力顯微鏡探針/針尖(AFM probes)相關技術及其產品、配件的研發和銷售的科技公司。
材料和納米科技進步改變和影響人類的文明進程，這些技術的發展對相應的表征科學儀器不斷提出更高的要求。納米科技是指對尺度在1-100nm的材料、分子及原子的特殊物理化學性能的研究和應用。原子力顯微鏡具有極高的分辨率和易用性，廣泛應用于力學、機械、電學、磁學以及生化等領域。1981年，STM由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 發明。1982年，Binnig首次觀察到原子分辨圖Si(7x7)。1985年，Binnig, Gerber和Quate開發成功了首臺原子力顯微鏡（AFM）。在納米技術領域，SPM逐漸發展成為重要的多功能表征工具。五澤坤公司的原子力顯微鏡探針/針尖包括接觸模式（contact mode），非接觸模式（non-contact / tapping mode）探針，生物應用探針，導電探針（EFM, c-AFM, SCM, Tuna, KFM, SSR），磁性探針（MFM）, 壓痕及刻蝕探針，Force modulation probes, Lateral mode probes等。
公司的研發團隊和工程師在近10年來活躍在納米表征、掃描探針以及半導體行業。公司在美國的研發中心近開發的超細納米針尖包括形貌高分辨針尖，特別是導電、磁性針尖，徹底克服了目前依靠磁性和導電金屬鍍層的針尖極易磨損的缺點。新產品具有使用壽命長，一致性好等突出優點。目前有四個新產品申請了美國和中國專利。公司多名研發人員獲得美國著名大學博士學位，對原子力顯微鏡，探針/針尖相關技術和應用有豐富的經驗，并能為客戶提供良好的技術咨詢和服務。
公司供應各種型號原子力顯微鏡探針/針尖：接觸模式（contact mode），非接觸模式（non-contact / tapping mode）針尖，生物應用針尖，導電針尖（EFM, c-AFM, SCM, Tuna, KFM, SSR），磁性針尖（MFM）, 壓痕及刻蝕針尖，Force modulation probes, Lateral mode probes等。

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